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宜特晶圓減薄能力達(dá)1.5mil

隨5G、物聯(lián)網(wǎng)、電動車蓬勃發(fā)展,對于低功耗要求越來越高,功率半導(dǎo)體成為這些產(chǎn)業(yè)勢不可擋的必備組件。宜特晶圓后端工藝廠的晶圓減薄能力也隨之精進(jìn)。宜特今宣布,晶圓后端工藝廠,通過客戶肯定,成功開發(fā)晶圓減薄達(dá)1.5mil技術(shù),技術(shù)門坎大突破。

臺北2021年1月6日 /美通社/ -- 隨5G、物聯(lián)網(wǎng)、電動車蓬勃發(fā)展,對于低功耗要求越來越高,功率半導(dǎo)體成為這些產(chǎn)業(yè)勢不可擋的必備組件。宜特(TWSE: 3289)晶圓后端工藝廠的晶圓減薄能力也隨之精進(jìn)。宜特今(1/6)宣布,晶圓后端工藝廠竹科二廠,通過客戶肯定,成功開發(fā)晶圓減薄達(dá)1.5mil(38um)技術(shù),技術(shù)門坎大突破。同時,為更專注服務(wù)國際客戶,即日起成立宜錦股份有限公司(Prosperity Power Technology Inc)。

使用控片測得2mil、1.5 mil、1.5 mil優(yōu)化條件后的損壞層厚度及TEM分析
使用控片測得2mil、1.5 mil、1.5 mil優(yōu)化條件后的損壞層厚度及TEM分析

宜特指出,功率半導(dǎo)體進(jìn)行減薄,一直都是改善工藝,使得功率組件實現(xiàn)低功耗、低輸入阻抗最直接有效的方式。晶圓減薄除了有效減少后續(xù)封裝材料體積外,還可因降低RDS(on)導(dǎo)通阻抗進(jìn)而減少熱能累積效應(yīng),以增加芯片的使用壽命。

但如何在減薄工藝中降低晶圓厚度,又同時兼顧晶圓強度,避免破片率居高不下之風(fēng)險自晶圓減薄最大的風(fēng)險。

為解決此風(fēng)險,iST宜特領(lǐng)先業(yè)界,已完成2mil(50um)、1.5mil(38um),甚至到0.4mil(10um)減薄技術(shù)開發(fā),iST宜特更藉由特殊的優(yōu)化工藝,在降低晶圓厚度的同時,也兼顧晶圓強度,可將研磨損傷層(Damage layer)降到最低。

關(guān)于宜特科技

始創(chuàng)于1994年,iST宜特從 IC 線路除錯及修改起家,逐年拓展新服務(wù),包括失效分析、可靠性驗證、材料分析等,建構(gòu)完整驗證與分析工程平臺與全方位服務(wù)。客群囊括電子產(chǎn)業(yè)上游 IC 設(shè)計至中下游成品端,并建置車用電子驗證平臺、高速傳輸信號測試。宜特秉持著提供客戶完整解決方案的宗旨,從驗證領(lǐng)域,跨入晶圓后端工藝整合量產(chǎn)服務(wù)。更多訊息請上官網(wǎng) https://www.istgroup.com

消息來源:Integrated Service Technology Inc. (iST)
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