ADI公司的MEMS加速度計實現(xiàn)結構缺陷的早期檢測

北京2016年10月12日電 /美通社/ -- Analog Devices, Inc. (ADI)全球領先的半導體公司最近推出了三軸MEMS加速度計，能以極低的噪聲執(zhí)行高分辨率振動測量，可通過無線傳感器網(wǎng)絡實現(xiàn)結構缺陷的早期檢測。最新ADXL354和ADXL355加速度計的低功耗性能可以延長電池壽命，同時通過降低電池更換次數(shù)而延長產(chǎn)品壽命。ADXL354和ADXL355的低噪聲加上低功耗性能使得現(xiàn)在能以高性價比實現(xiàn)低電平振動測量應用，比如結構健康監(jiān)控(SHM)。此外，ADXL354和ADXL355加速度計的傾斜穩(wěn)定性提供了溫度與時間范圍內(nèi)的出色可重復性，是采用慣性測量單元(IMU)和傾角計的無人機中方向與導航系統(tǒng)的理想之選。這些最新的加速度計產(chǎn)品可在所有環(huán)境下提供可重復的傾斜測量，它們在惡劣環(huán)境中無需進行大量校準即可實現(xiàn)最小傾斜誤差。

ADI公司的MEMS加速度計實現(xiàn)結構缺陷的早期檢測

•  查看ADXL354產(chǎn)品頁面，下載數(shù)據(jù)手冊、申請樣片和訂購評估板：http://www.analog.com/cn/products/mems/accelerometers/adxl354.html#product-overview
• 查看ADXL355產(chǎn)品頁面，下載數(shù)據(jù)手冊、申請樣片和訂購評估板：http://www.analog.com/cn/products/mems/accelerometers/adxl355.html
• 通過在線技術支持社區(qū)EngineerZone(R)聯(lián)系工程師和ADI產(chǎn)品專家：https://ezchina.analog.com/community/mems

ADXL354和ADXL355加速度計能以0.15mg/C（較大值）的零失調(diào)系數(shù)保證溫度穩(wěn)定性。這種穩(wěn)定性較大程度地減少了校準和測試相關的資源和成本開銷，幫助設備OEM制造商實現(xiàn)更高的吞吐速率。此外，密封封裝還可確保最終產(chǎn)品出廠很久以后還能符合可重復性與穩(wěn)定性規(guī)范。

ADXL354與ADXL355加速度計的輸出滿量程范圍(FSR)為+/- 2g至+/- 8g，具有1 Hz至1 kHz可選數(shù)字濾波以及25µ/√Hz低噪聲密度，而功耗不足200µA；這些產(chǎn)品以更低的功耗和BOM成本實現(xiàn)了貴得多的器件所具備的性能水平。

產(chǎn)品報價與供貨